HAST加速寿命试验箱

HAST加速寿命试验箱

HAST加速寿命试验箱--产品用途

用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定。

HAST加速寿命试验箱--结构特点

设备特点：

1、优化设计，美观大方，做工精细。

2、对应IEC60068-2-66条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器。

3、采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口。

4、采用真空泵，使箱内达到纯净饱和蒸汽状态。

5、具有缓解压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。

6、多项安全保护措施，故障报警显示及故障原因和排除方法的功能显示。

7、HAST高压加速老化试验机可根据客户产品专用产品架。

规范要求：

1、HAST高压加速老化试验机内胆采用圆弧设计，符合国家安全容器标准，可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

2、配备双层不锈钢产品架，也可根据客户产品规格尺寸免费量身专用产品架。

3、标准配备8条试验样品信号施加端子，也可以根据需要增加端子数量，多可提供55条偏压端子。

4、具备相对合适的试样架免去繁杂的接线作业。

HAST加速寿命试验箱--专利技术应用

一种高低温试验设备高压补偿装置 ZL2567.9

一种高低温试验设备自复叠制冷节能装置 ZL0987.4

一种高低温试验设备低温节能装置 ZL3478.7

一种低温试验防结露装置 ZL0471.X

HAST加速寿命试验箱--产品认证

欧盟CE认证

HAST加速寿命试验箱--产品品牌

ETE

HAST加速寿命试验箱--控制系统特点

低温区、高温区转换时间小于等于15秒。

温度恢复时间小于等于5分钟。

HAST加速寿命试验箱--符合标准

1、IEC60068-2-66； 2、JESD22-A102-B； 3、EIAJED4701； 4、EIA/JESD22； 5、GB/T 2423.40-1997.