工业拍照式三维扫描仪抄数机

系统介绍

XTOM—三维光学面扫描系统基于双目立体视觉原理，采用外差式多频相移三维光学测量技术，单幅测量幅面大小（从30毫米到1米）、测量精度、测量速度等性能都达到国际水平，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度更高，单次测量幅面更大、抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小，而且能够测量表面剧烈变化的工件，可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。

应用方向

行业

汽车行业、航空航天、机械制造、文物修复、家具制造、医疗保[jian]等

逆向设计

快速获取被测物体表面三维数据，建立物体三维模型，优化产品设计/还原设计图

产品检测

检测范围包括：产品点、线、面之间角度、距离、对称度及位置度等关系：对比标准共建或设计图分析产品尺寸、角度、厚度及位置偏差等：对比产品使用前后数据分析产品使用损耗，分析产品性能及寿命等。可检测铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等。

其他应用

技术参数

常规标准型

型号

XTOM-TC

XTOM-ED-I

XTOM-ED-II

测量幅面(mm)

200*150/400*300

200*150/400*300

200*150/400*300

相机像素

2*130w

2*130w

4*230w

测量精度(mm)

0.04

0.025/0.03

0.025~0.03

采样点距(mm)

0.15/0.3

0.1/0.2

0.1~0.2

标准测距(mm)

350/850

450/850

450/850

扫描时间(s)

2~4

扫描光源

蓝/白

拼接方式

标志点/特征/手动

高端工业型

型号

XTOM-ET-I

XTOM-ET-II

XTOM-ET-III

测量幅面(mm)

200*150/400*300

200*150/400*300

800*600

相机像素

2*230w

2*500w

2*500w

测量精度(mm)

0.02/0.025

0.01/0.015

0.03

采样点距(mm)

0.1/0.2

0.08/0.15

0.3

标准测距(mm)

450/850

450/850

1600

扫描时间(s)

2~8

扫描光源

蓝/白

拼接方式

标志点/特征/手动

备注：高端工业型CCD支持升级600万/900万，支持依据客户需求定制。